日置（HIOKI）LCR测试仪 IM3523
日置（HIOKI）LCR测试仪 IM3523
- 产品详情
- 产品参数
- 产品功能与应用
基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。内置比较器和BIN功能； 2ms的快速测试时间。
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。
LCR测试仪IM3523测量方法：
连续测量不同条件在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。
LCR测试仪IM3523测量方法：
顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能为了使用1台LCR测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。IM3523的面板保存功能更，最多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
可靠的产线检查：接触检查功能
检查4端子测量时样品间的接触不良。测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。
2MHz阻抗的4ch测量方案
精度计算软件
仅需输入数值即可轻松计算精度。
偏置单元
PC通讯
探头和测试治具
基本参数
| 测量模式 | LCR,连续测试 |
|---|---|
| 测量参数 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
| 测量量程 | 100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
| 可显示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为最高分辩率时的显示位数） 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%) |
| 基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
| 测量频率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
| 测量信号电平 | 正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms |
| 输出阻抗 | 正常模式：100Ω |
| 显示 | 单色LCD |
| 测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
| 功能 | 比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能 |
| 接口 | EXT I/O(处理器)，USB通信(高速) 选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一 |
| 电源 | 100～240V AC，50/60Hz，**50VA |
| 尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
| 附件 | 电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |
微信咨询
立即预约
