TH2836是采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、4Hz-8.5MHz的频率范围。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。

TH2836支持2V交流测试信号和10V直流偏置的高功率测试条件、增强的多参数列表扫描/多参数图形分析能力将有利于用户扩展元件全面评价的能力。

TH2836是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供了强有力的工具。

高精度

自动平衡电桥与普通LCR电桥相比，它能在更宽的频率范围内保证更高的频率精度！

高稳定性和高一致性

高速度

功能与界面

单测显示   

列表扫描显示

材料介电常数测试

TH2836系列配合专用材料测试夹具TH26077以及上位机软件可方便、精确的测量材料在不同频率下的介电常数。

上位机软件

通用上位机软件测试方式：

单次   

列表   

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硬件连接方式：RS232C、USB、GPIB、LAN；数据图像保存格式：TXT、XLS、MDB、CSV、BMP、JPG、PNG；其它功能：自动记录、设置文件保存、用户管理等

压电陶瓷上位机软件分析设置：

分析结果：

主要参数图   

主副参数（导纳圆）

无源元件：

电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

半导体元件：

LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件：

印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估

介质材料：

塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：

铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：

半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

技术参数

显示7英寸TFTLCD显示器800×RGB×480；测试端配置四端对；电缆长度0、1米；输出阻抗100Ω；典型测量时间（速度）Fast：5.6ms   Medium：120ms   Slow：230ms

DC偏置

电压0V-±10V；电压分辨率100μV；电流0mA-±100mA；电流分辨率1μA；最高准确度1kHz ：0.05% 1MHz：0.05%；2MHz：0.1%；5MHz：0.5%；8.5MHz：1.0%

测试频率

范围4Hz-8.5MHz；最高分辨率1mHz；AC测量参数Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac；DC测量参数Rdc、Vdc、Idc

测试电平

AC电压：4Hz-1MHz：5mV-2Vrms，1MHz-8.5MHz：5mV-1Vrms；分辨率100μV；AC电流：4Hz-2MHz：50μA-20mArms，2MHz-8.5MHz：50μA-10mArms；分辨率1μA；DC电压100mV-2V；分辨率100μV

测量显示范围

a：1×10-18；E：1×1018；Cs、Cp：±1.00000aF-999.999EF；Ls、Lp：±1.000000aH-999.999EH；D：±0.00001-9.99999；Q：±0.01-99999.9；R、Rs、Rp、X、Z、Rdc：±1.00000aΩ- 999.999EΩ；G,B,Y：±1.00000aS -   99.9999ES；Vdc：±1.000000aV - 999.9999EV；Idc：±1.00000aA - 999.999EA；θr：±1.00000rad - 3.14159rad；

θd：±0.0001deg - 180.000deg；Δ%：±0.0001% - 999.999%

多功能参数列表扫描

10点，扫描参数：测量参数、测试频率、AC电压、AC电流、DCBIAS电压、DCBIAS电流；图形分析选购上位机软件；接口USB HOST、USB   DEVICE、HANDLER、RS232C 选件：GPIB；开机预热时间60分钟；输入电压100-120VAC/198-242VAC可选择，47-63Hz；功耗80VA；尺寸（WxHxD）mm3400x132x425；重量约15kg