TLS-1000 LIV 测试方案(半导体解决方案)

零式未来
2019-11-13
来源:原创


精密温控型多功能 LIV 光谱功率积分测试系统测试方案




    

系统背景

随着光电子技术和信息技术的发展,半导体激光器 (LD) 在光纤通信,信息存储、光传输等领域得到了广泛的应用,作为系统的光源,LD 特性的优劣直接影响着系统的性能。半导体发光器件 LIV 光谱特性 ,需要精确地测试得到半导体激光器的 LIV 特性曲线和光谱相关参数。

LS-VCS-SCI-LIV 科研用 LIV 光谱功率积分系统 LIV 测试方案 ® 可以为客户提供 LD/LED 光电特性检测定制化解决方案,实现对 LD/LED 单体、模组、及芯片的LIV、EIV、TIE、PCE、光谱波长及功率测量等。


    

系统介绍

LS-VCS-SCI-LIV 精密温控型多功能光谱功率积分测试系统由泰克与合作单位专门针对基于脉冲 LD/LED试研发而成,该系统可用于对 LD/LED 光电特性检测, 以保证 LD/LED 脉冲激光辐射光谱满足器件光学功能和人眼安全应用需求。

LS-VCS-SCI-LIV 精密密温控型多功能光谱功率积分测试系统主要针对 LD/LED 的芯片和模组的光电特性测量,根据 /LD/LED 的发散角和输出功率测量要求,可选择不同规格的积分球,积分球内径尺寸分为:2 寸、4 寸、6 寸。积分球带已标定功率探头,由于 LD/LED 发热量大,温度对 LD/LED 输出功率和输出光谱波长有很大的影响,因此需要对样品控温,配置温度控制模块,控温范围 -50℃ ~+225℃可选。

方案特点

●光谱峰值波长和半高全宽(FWHM)测量:400- 1100nm,FWHM:0.1nm,最快可实现 2kHz 数据采集

●激光功率测量,最快可实现每秒 100k 采样点

●强大的分析专用软件可以扫描测量 LIV 曲线,PCE 曲线,温度 - 峰值波长 - 光功率曲线

●可设置扫描精度和速度,可测量光电转换效率,自动保存测试数据

●采用四线测量方法,实时记录实测电流、电压值, 功率值,测试更准确

●程序可设置连续及脉冲扫描两种模式

●寿命老化检测功能:在恒定或脉冲条件下电流、温度每隔指定时间间隔测试记录一次光谱和功率数据


    

具体测试软件界面如下:

    

                                     L-I-V 光谱扫描


    

         温度、峰值波长、光功率扫描曲线

系统配置

Keithely 2601B/2602B        大功率高精度电流源

Keithely 2651

Keithely DMM7510            高精度高速数字万用

Keithely 2510                     高精度数字温度控制

LS-VS-SPEC-IRR-50           光谱功率积分球模块

LS-VS-SPEC-IRR-100

LS-VS-SPEC-IRR-150

LS-VS-SPEC-IRR-OEM

LS-VS-PRB-HM                  手动探针台装置

LS-VS-STAGE    LED/LD   样品固定支架平台

LS-OPT-2412                     光学防震平台

LS-VS-TEC                         工业用高低温温度控制

LS-VS-CTRSYS-IND           集成硬件控制平台

LS-VS-CTRSYS-Soft           软件测量控制平台




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