EMI测试是EMC测试的一个重要组成部分，也是任何电子产品上市前的必要步骤。它的设计贯穿于整个产品的设计过程，需要在设计开始时加以考虑。然而，传统的EMI测试通常需要专业的光谱仪或信号分析仪，并且通过控制和分析带宽，通常无法快速捕获异常频带。基于数字下变频技术的频谱视图，泰克MSO4-5-6具有超高的捕获带宽和超快的分辨率，使工程师能够更快地定位问题，加快测试过程。

电磁干扰是指设备在工作过程中对外部环境的干扰。所有电子设备对电磁干扰都有限制，要求符合规范，不影响其他设备的工作。

EMI测试在设计过程中通常称为Pre-EMI测试，简称预测试。通常使用频谱仪和近场探头进行测试，如下图所示：

EMI测试是使用泰克RSA306B型号USB频谱仪和仅现场探头的电源。

由于传统频谱仪的捕获带宽有限，一般为10mhz、20mhz或40mhz，部分高性能频谱仪可以更高，但其高捕获带宽一般是可选的，成本更高。EMI测试的频率范围有一定的要求，但也相对较宽。一般来说，光谱仪测试将进入scan或step模式。整个测试需要很长的扫描周期，有时需要几个小时。这在设计阶段是不可接受的。示波器的FFT功能受采样率和存储深度的限制。如果你想观察高频率，你需要高采样率和足够的样本点来计算，这是很难实现的。

基于硬件的DDC技术采用泰克MSO4-5-6系列，时域与频域并行处理，大大提高了测试速度。

与传统FFT相比，同时观察时频域。

使用频谱视图来定位不同的异常频点。

优秀的底噪

与高端频谱仪RSA5126B相比，MSO6Series的底噪，在中低频段，更不用说测试结果，可以保证测试的准确性。

其操作菜单接近光谱仪设置，可独立于时域设置CF和Span等参数，比FFT操作更方便。MSO4/5最高Span可达到500MHz，MSO6Series最高Span可达到2GHz，示波器可用作DC起的中档光谱仪。