验证连接DUT后输出波形

InstaView™技术用在任意波函数发生器上可直接查看连接DUT后的实时波形，无需使用示波器或其他设备，节省测试时间并避免因阻抗不匹配导致的实验错误。

一分钟内完成双脉冲测试

AFG31000是一款包括内置双脉冲测试软件的函数发生器。现在，您可以在一分钟内直接在触摸显示屏上生成两个具有可变脉冲宽度（从20ns到150µs）的波形。无需使用外部PC应用程序或手动编辑。测量开关器件参数并评估MOSFET和IGBT等功率器件的动态性能。

高保真度信号与高级模式

打开包装后，在连续模式下每通道可以生成高达16M点的精确长波形。可变采集时钟技术确保您不再丢失任何波形数据。产品功能可升级，您可以进一步提高测试水平并只需花费传统AWG十分之一的成本进行复杂波形的创建和编辑。

产品选配功能升级，您可以：

将内存扩展为每通道128M点（选件MEM）
多达25项输入和控制的序列/触发/选通模式（选件SEQ）用于：循环、等待、跳转、转至、外部触发输入、手动触发、定时触发和SCPI命令，以便创建时序灵活、复杂的长波形。

简化任意波形创建

内置的ARB编辑工具ArbBuilder包括创建、编辑和传输任意波形的所有操作，无需连接PC或向PC传输文件。幅度和偏置数据存储在波形中，在加载标准化ARB后，无需调整设置。

模拟电路检定

这是一个模拟世界。所有物理量均使用模拟信号捕获和表示。因此，需要检定放大器、滤波器和转换器等模拟电路的性能。

真实场景信号复制

传感器广泛用于几乎所有现代化电子设计领域，从汽车到医疗器械再到电子消费品。迄今为止，使用AFG捕获波形并进行复制以便排除故障或验证一直是**挑战的过程。

函数验证和性能检定

在产品上市前，测试工程师必须进行大量测试用例，确保产品满足技术规格。但是，此过程比较耗时且重复。

系统与时钟或脉冲同步

数字设计中的所有电路部分按照时钟速度同时工作。大系统中的所有设备必须与触发信号协调，以确保它们正常、可靠地工作。使用AFG31000是生成时钟和触发脉冲的有效方法。

双脉冲测试

双脉冲测试是一种用于测量开关器件参数和评估MOSFET和IGBT等功率器件动态性能的方法。双脉冲测试可测量开启参数、关闭参数和反向恢复参数。

执行此测试可：

高级研究和教育

研究人员和教师需要大量信号才能完成研究和教学工作。测试可以像一系列的脉冲一样简单，模拟Geiger-Muller计数器的输出，或者像一个长基带IQ一样复杂。

- 测试测量综合服务商 -

泰克（Tektronix）AFG31000系列任意波函数发生器