系统背景

电子产品表面可触及件的过高温度，可能会引起人员伤害，产品内部的过高温度，还可能会引起绝缘损坏，过高温度甚至会引起产品的机械不稳定，因此温升实验是产品安全设计考虑的一个重要因素。如保确保产品的温升达到预期的要求，如何查找到电子产品温升产生的根源始终是研发工程师面临的挑战。为应对这些挑战，在产品设计及验证过程中，工程师会经常一边用示波器测试关键电子部件的电压、电流、功率等波形，一边用温度采集器观察产品不同工作模式和工作时间的温升温度。为了验证关键波形和温升温度，工程师要花费大量的时间反复观查测试。TTK-3100波形温度双采集系统就是为简化这些测试而开发的，为工程师进行温升分析验证节省宝贵时间。

系统介绍

TTK-3100波形温度双采集系统RF简易测试系统把示波器测试波形和温度采集数据融合到了一起，让测试工程师在监测产品温升的同时，用示波器测试关键电子部件的电压、电流、功率等波形，通过系统软件把温度和示波器波形同步采集并保存，使测试工程师方便查看不同温度下器件的电压、电流、功率等波形，也可以查看在不同电压、电流、功率等波形对应的温升温度。TTK-3100波形温度双采集系统软件也提供温度触发模式，可设置温升温度上限，当关心的温升测试点温度达到温升阈值时自动触发记录带有精确时间标签的示波器波形截图，大大简化了温升温度和示波器波形采集的同步测试。

方案特点

操作简单，示波器波形和温度数据同步采集存储，提供温升阈值触发模式，波形和温度精确的时间标签，方便查询，温度采集最高可达80通道。

产品功能：最快2次/秒的波形采集

实时温度及波形显示

系统配置

MDO3000/MDO4000系列示波器① 1台，DAQ6510数据采集器 1台，TTK-3100波形温度双采集系统软件 1套。

注

根据测度频率及功率精度任选一款型号